產(chǎn)品介紹 |
X射線熒光(XRF)分析技術(shù)是測定由初級X射線激發(fā)樣品時所產(chǎn)生的二次特征X射線(X射線熒光),它是一種非破壞性分析方法,可實現(xiàn)固體和液體樣品的多元素快速分析。XRF適合各類固體,液體樣品中主,次多元素同時測定,檢出限在mg/kg 量級范圍內(nèi),制樣方法簡單,現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、材料、環(huán)境、冶金樣品的常規(guī)分析。XRF作為一種無損檢測技術(shù),可以直接應(yīng)用于現(xiàn)場、原位分析,在材料分析領(lǐng)域占有重要地位。 XRF9能量色散X射線熒光分析儀正是基于X射線熒光分析技術(shù)設(shè)計的一款新型X射線熒光光譜分析儀。可實現(xiàn)對樣品中所含元素快速,無損,準(zhǔn)確的定性、定量分析。采用XRF9分析儀進(jìn)行成分辨別無需復(fù)雜的化學(xué)前處理,是最快速,經(jīng)濟(jì)的方法。 |
主要特點 |
1.樣品無損檢測:固體樣品可直接檢測,無需化學(xué)前處理。 |
技術(shù)參數(shù) |
儀器系統(tǒng)組成及規(guī)格 |